計測・分析装置

【ERA seriesをご検討中のお客様へ】
ご注文停止のお知らせ

弊社製品をご検討いただき、誠にありがとうございます。現在、予想を上回るご注文により、生産が追いつかないため、ご注文およびデモ評価の受付を一時停止させていただいております。再開時期については、生産状況を見ながらご案内いたします。ご不便をおかけしますこと、心よりお詫び申し上げますとともに、何卒ご理解いただけますようお願い申し上げます。

三次元粗さ解析走査電子顕微鏡『ERA-600シリーズ』

計測・分析装置

製品特徴

フィールドエミッション三次元粗さ解析走査電子顕微鏡

高精度・高分解能表面形状測定機の決定版。 
高分解能SEM観察と試料表面の形状測定、 
表面性状パラメータ算出がこの一台で可能! 
精密工学会技術賞を受賞。

ERAシリーズで何ができるのか?何がわかるのか? 

組成情報を排除し、凹凸コントラストだけの画像に。 
凹凸感の曖昧な通常のSEM像、 
画像から確実に凹凸の判断ができ、さらに形状測定も行える。 

各種表面性状パラメータが得られます

・三次元鳥瞰図・等高線図・JIS規格、ISO規格の表面性状パラメータが得られます。 
  
・これらのSEM画面、三次元測定データ等を、Windows対応のファイルサーバーソフトウエアとリンクさせる事により、 
 効率的にデータ管理できます。これにより論文、報告書の作成効率も格段に高まります。

三次元鳥瞰図

等高線図

世界唯一、4本の二次電子検出器搭載による立体感画像

・凹凸感の曖昧な通常のSEM像とは異なり、確実に凹凸の判断ができる 
 独自の凹凸二次電子像、また、組成コントラストを強調した二次電子像 
 など、試料から様々な情報が得られます。 
 さらに、EDS、EBSD、CLなどのオプションも搭載可能です。

下の画像は同一視野における左「組成強調二次電子像」と右「凹凸強調二次電子像」との見え方の違い。

組成強調二次電子像倍率 ×150

凹凸強調二次電子像 倍率 ×150

縦方向・横方向ともに高い分解能

・独自の二次電子信号処理技術により縦方向、横方向ともに分解能が高く、 
 微細な表面形状を確実に捕らえます。

高い操作性

・使いやすい日本語メニュー・マウス操作でのオペレーション。 
  
・オート機能を搭載し、簡単な操作を実現しました。また積分ユニットの採用により、リアルタイムで鮮明な静止画像が 
 得られ、明るい部屋の中での観察、測定が可能です。

試料へのダメージが低い

・電子プローブで試料表面を高速にスキャンし測定するため、試料表面を傷つける事はありません。 
 
・照射電流量も10pA以下と極めて小さくビームダメージに弱いサンプルも測定する事が出来ます。

高いメンテンス性

・独自の長寿命電子源(ショットキー型)を搭載しているため、日常のメンテナンスはほとんど不要です。

3D元マッピング EDSオプション装着

組成強調二次電子像倍率 ×2,000 

凹凸強調二次電子像 倍率 ×2,000

同一視野のEDS元素マッピング像

3D元素マッピング像 
赤:Ca、青:S、緑:Al

関連資料ダウンロード

※ERA-8900、ERA-8900FEは、それぞれERA-600、ERA-600FEの先代モデルです。

拡張パネル+ジョイスティック 装着例

EDS+EBSD オプション装着例

オプション ENT-ERA(SEM、EBSD)測定座標共有化ホルダーシステム

ERAシリーズと超微小押込み硬さ試験機ENT-NEXUS、 
ENTシリーズとの共通試料ホルダーです。 
どちらも試料表面の観察、分析、物性評価に用いる装置で 
あり、連携させることで装置単体での性能を大きく拡張し 
た解析結果を得ることができます。 
・試料の取り外し、再固定の手間を省き、スムーズに装置 
 間の試料移動が行えます。 
・ERAシリーズ、ENT-NEXUS、ENTシリーズ装置間での 
 ステージ座標変換が容易、同一視野、同一測定場所の選定 
が極短時間かつ ピンポイントで行えます。

オプション Degital Surf社 MountainsMap® Topo ソフトウェアー

主な仕様

 ERA-600FEERA-600
電子銃ZrO/W 熱電界放出型プリセンタードタングステン
加速電圧0.3 ~ 30kV 0.3 ~ 35kV
横方向分解能 1.2nm : 30kV 
5nm : 1kV
 3.5nm : 35kV
倍率 x 20 ~ 600,000倍x 10 ~ 400,000倍
試料寸法Φ150 × t15 mm (最大径) 
Φ50 × t30 mm (最大厚)
 試料駆動 X,Y,Z,R,T 5軸モータ駆動
 二次電子検出器 4本 (a,b,c,d)
 高さ方向分解能  1nm
 測定方向 X方向、Y方向
 測定データ数 三次元測定データ最大1,728万点、1ライン測定データ最大32,767点
 表面性状 
パラメータ算出
 鳥瞰図、等高線、山数、面積率、粒度、表面積 
JIS規格パラメータ (JIS B 0601-2001に準拠)
 オプション  操作パネル、ジョイスティック、BSE検出器、EDS、WDS、EBSD、予備排気室 (4インチ型)、 
ナビゲーションカメラ、各種試料ホルダー、Degital Surf社Mountainsmapソフトウェア―

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