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電子ビーム描画装置 『ELSシリーズ』
ECRイオンビーム装置 『EISシリーズ』
電子線三次元粗さ解析装置 『ERA-9200』
電子ビーム描画装置『ELSシリーズ』
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ピッチ 50 nm,線幅 3 nm のLine & Space パターン
ピッチ 12 nm の Elbow パターン
線幅 8 nm の縦・横・斜め・リングパターン
ギャップ 2.5 nm の Bow-Tie パターン
ピッチ 60 nm,線幅 4 nm のLine & Space パターン
ピッチ 600 nm のブレーズドパターン
2 µm 厚のレジストで作製したピッチ 250 nm の SAW デバイスパターン
一辺 50 nm の三角形パターン
Φ 20 nm,高さ 60 nm のピラーパターン
ピッチ 60 nm の Line & Space パターン
ピッチ 400 nm,一辺 200 nm の四角形パターン
円周スキャンを用いた線幅 50 nm のリングパターン
4 inch 全面にピッチ 400 nm の Line & Space パターンを 18 h で作製
線幅 100 ~ 450 nm の同心円パターン
モルフォ蝶の鱗粉を模したパターン
線幅 150 nm の長方形パターン
ピッチ 100 nm, 線幅 15 nm の Line & Space パターン
線幅 8 nm の「ORCA」パターン
線幅 100 nm, 高さ 200 nm の斜め線パターン
Pt をリフトオフして作製した 9.5 nm のナノギャップパターン
ECRイオンビーム装置『EISシリーズ』
ピッチ 200 nm,深さ 450 nm の Line & Space パターン
Φ300 nm,深さ 300 nm の傾斜ドットパターン
最大深さ 1050 nm のホログラムパターン
Φ35 nm,ピッチ 100 nm のピラーパターン
線幅 50 nm,高さ 100 nm の直線リフトオフパターン
線幅 50 nm,高さ 100 nm の曲線リフトオフパターン
線幅 100 nm,高さ 100 nm のリフトオフパターン
T-gate プロセスとリフトオフプロセスで作製したキノコ形状
ピッチ 450 nm Line & Space の 45 ° 傾斜エッチングパターン
Pt を Ar イオンでエッチングしたピッチ 400 nm Line & Space パターン
Si を Ar イオンでエッチングしたピッチ 400 nm Line & Space パターン
電子線三次元粗さ解析装置『ERA-9200』
超高解像度電子線レジスト ご提供:産業技術総合研究所 (80万倍)
Liイオン電池電極材料 ご提供:日本スピンドル製造株式会社(25万倍)
カーボンナノチューブ 先端部分(40万倍)
Liイオン電池電極材料 ご提供:日本スピンドル製造株式会社
3D解析 段差測定
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